陶瓷針規(guī)技術(shù)參數(shù)及檢測(cè)方法簡(jiǎn)介

陶瓷針規(guī)用于測(cè)量孔距，孔深等距離，作為測(cè)量工具，那么對(duì)其檢測(cè)方法也肯定是有一定要求的，下面是科眾陶瓷廠(chǎng)對(duì)陶瓷針規(guī)的技術(shù)參數(shù)于檢測(cè)方法進(jìn)行的簡(jiǎn)單介紹。
 

針規(guī)有公制針規(guī)、英制針規(guī)等。針規(guī)是孔的標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)必備工具，并廣范用于電子板、線(xiàn)路板、模具、精密機(jī)械制造等各種高精尖技術(shù)領(lǐng)域。

陶瓷針規(guī)的技術(shù)參數(shù)：粗糙度≤0.20um；熱處理HRC60～63；材料：釔穩(wěn)定氧化鋯材質(zhì)。我廠(chǎng)可以定做各種非標(biāo)針規(guī)。

陶瓷針規(guī)的檢測(cè)方法可以在高精度的測(cè)長(zhǎng)儀上進(jìn)行直接測(cè)量，或在接觸式干涉儀上進(jìn)行比較測(cè)量，也可以用立式光學(xué)計(jì)或臥式光學(xué)計(jì)進(jìn)行直接測(cè)量或比較測(cè)量 。

對(duì)于標(biāo)稱(chēng)尺寸小于 lmm，最大允許誤差小于±1um的針規(guī)，檢測(cè)直徑時(shí)，最好用高精度的測(cè)長(zhǎng)儀進(jìn)行直接測(cè)量。因?yàn)樵诮佑|式干涉儀上用比較法進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，要將量塊和針規(guī)研合在一起，而針規(guī)太細(xì)，不太容易和量塊研合 ，如果是帶柄的針規(guī)，就更不容易和量塊研合了。

對(duì)于標(biāo)稱(chēng)尺寸在1～10mm范圍內(nèi)，最大允許誤差大于±1um的針規(guī)，檢測(cè)直徑時(shí)，最好用臥式光學(xué)計(jì)，而不用立式光學(xué)計(jì)，因?yàn)闄z測(cè)針規(guī)的直徑至少要在三個(gè)截面上，尤其在檢測(cè)針規(guī)兩頭的截面直徑時(shí)，很容易放置不平穩(wěn)，造成讀數(shù)不可靠。而用臥式光學(xué)計(jì)，使針規(guī)豎放，容易保持平穩(wěn)。

對(duì)于標(biāo)稱(chēng)尺寸大于10mm，最大允許誤差大于±1um的針規(guī)，可以用立式光學(xué)計(jì)進(jìn)行檢測(cè)。針規(guī)一般是由氧化鋯陶瓷制造，有一定的自重，在檢測(cè)過(guò)程中要比尺寸小的針規(guī)容易放置平穩(wěn)。